๐ฆ
Semiconductor Packaging Standard
Advanced Packaging, Chiplets, 2.5D/3D Integration
UCIe โข HBM โข CoWoS โข Fan-Out โข System-in-Package
4-Phase Implementation
Phase 1: Package Design
Advanced package architecture and substrate design
- 2.5D interposer design
- 3D IC stacking topology
- Chiplet floor planning
- Fan-out wafer-level packaging
- RDL (Redistribution Layer) routing
Phase 2: Thermal & Electrical
Thermal management and signal integrity analysis
- Thermal resistance calculation
- Junction temperature prediction
- Power delivery network design
- Signal integrity simulation
- Warpage and stress analysis
Phase 3: Interconnect
Chiplet interconnect protocols and standards
- UCIe (Universal Chiplet Interconnect)
- HBM (High Bandwidth Memory) integration
- Through-Silicon Via (TSV) design
- Micro-bump pitch optimization
- SerDes for die-to-die communication
Phase 4: Reliability
Package reliability testing and qualification
- Thermal cycling tests (TCT)
- Highly Accelerated Stress Test (HAST)
- Moisture sensitivity level (MSL)
- Drop and shock testing
- Electromigration assessment
๐ฆ
๋ฐ๋์ฒด ํจํค์ง ํ์ค
์ฒจ๋จ ํจํค์ง, ์นฉ๋ , 2.5D/3D ์ง์
UCIe โข HBM โข CoWoS โข ํฌ์์ โข ์์คํ ์ธํจํค์ง
4๋จ๊ณ ๊ตฌํ
1๋จ๊ณ: ํจํค์ง ์ค๊ณ
์ฒจ๋จ ํจํค์ง ์ํคํ ์ฒ ๋ฐ ๊ธฐํ ์ค๊ณ
- 2.5D ์ธํฐํฌ์ ์ค๊ณ
- 3D IC ์ ์ธต ํ ํด๋ก์ง
- ์นฉ๋ ํ๋ก์ด ํ๋๋
- ํฌ์์ ์จ์ดํผ ๋ ๋ฒจ ํจํค์ง
- RDL (์ฌ๋ฐฐ์ ์ธต) ๋ผ์ฐํ
2๋จ๊ณ: ์ด ๋ฐ ์ ๊ธฐ
์ด ๊ด๋ฆฌ ๋ฐ ์ ํธ ๋ฌด๊ฒฐ์ฑ ๋ถ์
- ์ด ์ ํญ ๊ณ์ฐ
- ์ ํฉ ์จ๋ ์์ธก
- ์ ๋ ฅ ์ ๋ฌ ๋คํธ์ํฌ ์ค๊ณ
- ์ ํธ ๋ฌด๊ฒฐ์ฑ ์๋ฎฌ๋ ์ด์
- ํจ ๋ฐ ์๋ ฅ ๋ถ์
3๋จ๊ณ: ์ธํฐ์ปค๋ฅํธ
์นฉ๋ ์ธํฐ์ปค๋ฅํธ ํ๋กํ ์ฝ ๋ฐ ํ์ค
- UCIe (์ ๋๋ฒ์ค ์นฉ๋ ์ธํฐ์ปค๋ฅํธ)
- HBM (๊ณ ๋์ญํญ ๋ฉ๋ชจ๋ฆฌ) ํตํฉ
- TSV (๊ดํต ์ค๋ฆฌ์ฝ ๋น์) ์ค๊ณ
- ๋ง์ดํฌ๋ก๋ฒํ ํผ์น ์ต์ ํ
- ๋ค์ด๊ฐ ํต์ ์ ์ํ SerDes
4๋จ๊ณ: ์ ๋ขฐ์ฑ
ํจํค์ง ์ ๋ขฐ์ฑ ํ ์คํธ ๋ฐ ์ธ์ฆ
- ์ด ์ฌ์ดํด ํ ์คํธ (TCT)
- ๊ณ ๊ฐ์ ์คํธ๋ ์ค ํ ์คํธ (HAST)
- ์ต๋ ๋ฏผ๊ฐ๋ ๋ ๋ฒจ (MSL)
- ๋ํ ๋ฐ ์ถฉ๊ฒฉ ํ ์คํธ
- ์ผ๋ ํธ๋ก๋ง์ด๊ทธ๋ ์ด์ ํ๊ฐ